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用途： 采用白光相移显微干涉技术，测量光纤端面纳米级形貌参数： ？曲率半径（ROC） ？顶点偏移（Apex Offset） ？光纤高度 ？APC光纤连接器的研磨角度 ？APC光纤连接器定位键的角度 ... ...